离子溅射仪喷金价格_离子溅射仪使用说明
1.样品制备-使用离子溅射仪改善SEM成像
2.扫描电镜下怎么计算平均粒径
3.sem喷金处理需要多长时间
4.固态电解质离子电导率
样品制备-使用离子溅射仪改善SEM成像
离子溅射仪为扫描电子显微镜(SEM)最基本的样品制备仪器,在一些情况下,通过使用离子溅射仪可以帮助SEM获得更好的图像及特征点。
? SEM基本上是可以对所以类型的试样进行图像处理,粉末,半导体,高分子材料,陶瓷,金属,地质材料,生物样品等。然而有些特殊的样品通过SEM收集高质量的照片,是需要操作者使用额外的样品制备的方法,这个额外的样品制备方法,通常是在试样的表面溅射一层导电薄膜材料,通常在5-20nm左右。
需要溅射的样品
非导电材料
通常我们需要溅射喷金的非导电材料,由于它们的材料本身的非导电性,其表面带有电子陷阱,这种表面的电荷的聚集,容易造成样品表面的放电现象,是严重影响到样品的图像质量。为了消除放电现象,我们通常的解决问题的方法是降低扫描电镜样品室的真空度,这样可以将样品表面的引入正电荷的分子,它可以与放电电子相互中和,从而消除放电现象,但是此种方法并不是获取高分辨率的图像的有限办法。
获取高分辨率高质量的SEM图像,建议操作人员使用 离子溅射仪 ,在样品表面溅射一层金属薄膜,将放电电子从样品表面转移走。
电子束敏感样品
对于SEM需要喷金的另外一类样品室电子束敏感样品。这类样品通常是生物样品和高分子样品,尤其是锂电池隔膜等。SEM的电子束具有较高的能力,在电子轰击样品的过程中,他会在样品的表面形成能力的聚集,会对样品的表面形成灼伤,从而损坏样品表面的微观相貌,这种情况下,我们会在非电子束敏感样品的表面溅射一层金属薄膜从而起到保护作用,防止样品的损失。
为了准确高分辨率高质量的SEM图像,建议操作人员选择使用离子溅射仪,在样品表面溅射一层导电通路。 离子溅射仪 的样品制备技术可以有效的提高SEM图像的质量和分辨率,在扫描电子显微镜的成像过程中,溅射材料可以有效的提高信噪比,从而获取更高质量的成像。
离子溅射仪的缺点
由于操作简单,在使用离子溅射仪的过程中,操作人员大可不必有太多的顾虑,在操作人员需要不断调整离子溅射仪的参数,寻找合适的溅射效果,另外离子溅射有一个缺点是,溅射后的样品,不再是原始的材料,元素的衬度信息会有所丢失。但在大多数的情况下,通过多次模式参数,操作人员是可以既能够得到高分辨高质量的图像,又不会丢失样品的原始信息。
溅射材料
通常溅射的材料是金属材料,因为导电性高,溅射颗粒小,例如我公司生产的GVC-2000磁控离子溅射仪,在溅射黄金靶材的时候,我们可以达到5-10nm的金属颗粒,如果选用铂金颗粒的直径会更小达到5nm以内,此款仪器主要配备各大电镜厂家生产的场方式电镜,正是因为溅射的颗粒小,在高分辨下,图像是没有颗粒感,可以得到较高的质量的电镜图像。
? 此外,如果需要EDS能谱分析时,SEM操作人,可以通过EDS分析软件屏蔽靶材的元素选项,从而不会影响X射线与其他的元素的峰值发生冲突。
当然,我公司生产的 GVC-2000磁控离子溅射仪 ,可以支持多种靶材的选项,例如,铬,银,铜,铱等,如铜,铝等是需要接入氩气的,仪器预留好了氩气接口,可以支持链接氩气瓶使用,从而得到更小的金属颗粒,获取更高分辨率的图像。
style="font-size: 18px;font-weight: bold;border-left: 4px solid #a10d00;margin: 10px 0px 15px 0px;padding: 10px 0 10px 20px;background: #f1dada;">扫描电镜下怎么计算平均粒径
在颗粒旁放一钢片尺作参照物就可确定扫描电镜图像中的颗粒粒径。取一滴放在20ml高级醇溶剂中,充分搅匀后取一小滴在负载6和6mm被刻蚀过的盖玻片的样品台座上,真空抽干后立即用离子溅射镀膜仪喷金后待用。
电镜的使用
砂岩和粉砂岩的粒度分析常采用筛析法、沉速法和薄片法,常用的沉速法有阿兹尼法、沙巴宁法和罗宾逊法等。筛析法和沉速法适用于未固结的疏松岩石,如粗碎屑岩一般只用筛析法;而中—细粒碎屑岩由于常常含有较多的粉砂和黏土,常将沉速法与筛析法结合使用。
薄片法主要用于固结坚硬的岩石。一般来说,筛析法适用于大于0.25mm的颗粒,亦可用于大于0.1mm的颗粒,而沉速法适用于小于0.25mm的颗粒。
sem喷金处理需要多长时间
5分钟。sem扫描电镜喷金是一种动态观察和分析材料微观变形形貌及断裂机制的手段,喷金处理需要5分钟,在材料科学研究中发挥了重要作用。为了获得更好的扫描电镜图像,扫描电镜有必要结合喷金仪(离子溅射仪)使用。
固态电解质离子电导率
固态电解质研究有诸多因素需要考虑,固态电解质的电导率成为关键科学问题之一,但固态电介质电导率包含电子电导率和离子电导率两部分,需要降低电子电导率,提高离子电导率,目前测量离子电导率的最佳方式是通过阻塞电极,测试交流阻抗进行计算而得到。
同样固态电解质的电导率测试也需要如前面电化学窗口及内短路介绍中所提到的阻塞电极,进行测试。
阻塞电极制备,由6mm直径厚度约1.3mm LLZNb05 固态电解质 ,阻塞电极为直径6mm由磁控溅射喷金处理而成
使用Solartron1260A 频率响应分析仪,施加10mV交流电压振幅,频率范围为13 MHz 10 Hz
温度 (253 K, 263 K, 273 K, 283 K, 293 K, 298 K, 303 K, and 313 K) 氮气环境中
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